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控制等离子体处理室中的蚀刻工艺的方位角均匀性

摘要

提供了一种用于控制等离子体处理室中的蚀刻工艺的方位角均匀性的装置、系统和方法。在一个实施方式中,等离子体处理装置可以包括等离子体处理室和布置在所述等离子体处理室之上的RF罩。介电窗可以将等离子体处理室和RF罩分开。装置可以包括布置在介电窗之上的等离子体生成线圈。等离子体生成线圈能够进行操作以在被激励时在等离子体处理室中生成电感耦合等离子体。装置还包括布置在RF罩内接近等离子体生成线圈的至少一部分的导电表面。导电表面被布置成在等离子体生成线圈被激励时在导电表面与等离子体生成线圈之间生成方位角可变电感耦合。

著录项

  • 公开/公告号CN106463324B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201680001356.4

  • 发明设计人 弗拉迪米尔·纳戈尔尼;

    申请日2016-03-17

  • 分类号H01J37/32(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人杜诚;李春晖

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 10:24:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-11

    授权

    授权

  • 2018-12-14

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01J 37/32 登记生效日:20181127 变更前: 变更后: 申请日:20160317

    专利申请权、专利权的转移

  • 2018-12-14

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01J 37/32 登记生效日:20181127 变更前: 变更后: 申请日:20160317

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/32 申请日:20160317

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/32 申请日:20160317

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/32 申请日:20160317

    实质审查的生效

  • 2017-02-22

    公开

    公开

  • 2017-02-22

    公开

    公开

  • 2017-02-22

    公开

    公开

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