SRAM型FPGA中子单粒子效应试验控制方法与装置

摘要

本发明涉及SRAM型FPGA中子单粒子效应试验控制方法，包括：S1：对器件的多个控制参数进行设置与计算；S2：在完成设置与计算的多个控制参数组合的约束条件下对器件进行控制。本发明明确规定了试验应当控制的参数条件以及约束各参数的控制方法，优化并提出了完整的试验过程控制理论方法，保证了试验结果的正确性，也为保证航空/航天系统在空间环境中系统可靠性研究奠定了基础。本发明还公开了SRAM型FPGA中子单粒子效应试验控制装置。