Circuit faults; Field programmable gate arrays; Reliability; Neutrons; Neural networks; Radiation effects; Semiconductor lasers;
机译:结合加速辐射测试和故障注入的结果来预测基于SRAM的FPGA中实现的应用的错误率
机译:比特流故障注射(BIFI) - 以基于SRAM的FPGA为基础故障攻击
机译:一种软件解决方案,用于估计在基于SRAM的FPGA上实现的系统的SEU引起的软错误率
机译:中子辐照和故障注入方法在基于SRAM的FPGA中实现的神经网络推理错误的比较分析
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:FPGA中系统故障注射仿真:工具技术和方法教程
机译:基于SRAM的FPGA中子引起的软错误率下的老化和电压缩放影响