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图案形成方法、光化射线敏感或放射线敏感树脂组合物、抗蚀剂膜、电子器件的制造方法以及电子器件

摘要

提供一种图案形成方法,其包括:(i)由光化射线敏感或放射线敏感树脂组合物形成膜的步骤;(ii)将膜曝光的步骤;以及(iii)通过使用含有有机溶剂的显影液进行显影以形成阴图型图案的步骤,其中所述光化射线敏感或放射线敏感树脂组合物含有(A)能够通过酸的作用增加极性以降低在含有有机溶剂的显影液中的溶解度的树脂,(B)能够在用光化射线或放射线照射时生成酸的化合物,(C)溶剂,以及(D)含有具有氟原子并且不具有CF3部分结构的重复单元的树脂。

著录项

  • 公开/公告号CN104335119B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士胶片株式会社;

    申请/专利号CN201380026683.1

  • 申请日2013-05-23

  • 分类号G03F7/038(20060101);G03F7/004(20060101);G03F7/039(20060101);G03F7/32(20060101);H01L21/027(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人牛海军

  • 地址 日本国东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:17:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-09

    授权

    授权

  • 2015-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/038 申请日:20130523

    实质审查的生效

  • 2015-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/038 申请日:20130523

    实质审查的生效

  • 2015-02-04

    公开

    公开

  • 2015-02-04

    公开

    公开

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