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微电子器件方波EMP注入敏感端对的实验研究

         
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摘要

采用方波注入法,对国外某知名公司生产的两个批次的晶体管进行了实验,比较了从CB结反向注入与从EB结反向注入的损伤电压值,发现该类器件的EMP敏感端对与人们一般研究的结论有所不同.

著录项

  • 来源
    《军械工程学院学报》 |2004年第6期|1-3|共3页
  • 作者

    杨洁; 刘尚合; 原青云; 武占成;

  • 作者单位

    军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003;

    军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003;

    军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003;

    军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 O472.7;TN323.2;
  • 关键词

    微电子器件; 方波注入; 敏感端对;

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