首页> 中国专利> 一种硅的中红外抗反射微结构的制备方法

一种硅的中红外抗反射微结构的制备方法

摘要

本发明提供了一种硅的中红外抗反射微结构的制备方法,包括以下步骤:首先通过绘图软件设计所需的刻蚀图案,然后在清洗过后的硅表面均匀涂覆一层紫外光刻胶,经过紫外曝光,通过显影液显影将绘图软件设计出来的图案转移到覆有光刻胶的硅片上,此时通过电子束蒸发的方法在此硅片上蒸镀一层金的薄膜,基于湿法刻蚀的原理,通过调节刻蚀时间和刻蚀液体的组份进行刻蚀深度的控制,得到高度可控的高深宽比的硅微米阵列结构。本发明所述的制备方法具有成本低,加工方便,刻蚀深度大且可控等优点,在硅的中红外抗反射领域具有广泛的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN106653952B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京大学;

    申请/专利号CN201710035968.1

  • 发明设计人 吕春雨;边捷;

    申请日2017-01-17

  • 分类号

  • 代理机构南京知识律师事务所;

  • 代理人李媛媛

  • 地址 210093 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-08

    授权

    授权

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/18 申请日:20170117

    实质审查的生效

  • 2017-05-10

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号