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用垂直结构的碳纳米管晶体管设计的单电子存储器及制法

摘要

本发明涉及用垂直结构的碳纳米管晶体管设计的单电子存储器及制法,包括:衬底,其上氧化形成二氧化硅绝缘层;在绝缘层上制备出一个垂直结构的碳纳米管晶体管,和设置一根半导体性的单壁碳纳米管,在其两侧制备出源极和漏极并与碳纳米管发生欧姆接触;在这根碳纳米管的上方制备出一个很薄的栅极绝缘层,其上设置这个碳纳米管晶体管的栅极;栅极一侧的栅极绝缘层上设置一条存储器的金属字线,金属字线和栅极通过一根金属性碳纳米管连接在一起,此碳纳米管上制备出至少两个隧穿结。该方法制备出的量子点可以在室温下出现库仑阻塞现象,因此器件可在室温下工作,通过测量碳纳米管晶体管的漏极电流可以实现存储器数据的读出。

著录项

  • 公开/公告号CN1236493C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN02131272.9

  • 发明设计人 孙劲鹏;王太宏;

    申请日2002-09-24

  • 分类号

  • 代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王凤华

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/00 授权公告日:20060111 终止日期:20120924 申请日:20020924

    专利权的终止

  • 2006-01-11

    授权

    授权

  • 2004-06-09

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-03-31

    公开

    公开

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