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一种齐纳击穿的小回滞SCR结构的高压ESD保护器件

摘要

一种齐纳击穿的小回滞SCR结构的高压ESD保护器件,可用于片上IC的高压ESD保护电路。包括P型衬底、N型埋层、第一N阱、P阱、下沉P掺杂、第二N阱、隔离区、第一N+、第一P+、第二N+、第二P+、第三N+、第三P+、第四N+、第四P+、第五N+、第五P+、金属阳极、金属阴极。其中由第一金属阳极、金属阴极、第一N+、第一P+、第三N+、第三P+、第二N+、第二P+或由第二金属阳极、金属阴极、第五N+、第五P+、第三N+、第三P+、第四N+、第四P+构成齐纳击穿ESD电流泄放路径。齐纳击穿ESD电流泄放路径不仅可增强器件的ESD鲁棒性,还可提高器件的维持电压,适用于窄小ESD窗口的高压ESD保护。

著录项

  • 公开/公告号CN103606548B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江南大学;

    申请/专利号CN201310658694.3

  • 发明设计人 梁海莲;顾晓峰;毕秀文;董树荣;

    申请日2013-12-09

  • 分类号H01L27/02(20060101);H01L29/40(20060101);H01L29/06(20060101);H01L29/74(20060101);H01L29/866(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 214122 江苏省无锡市蠡湖大道1800号

  • 入库时间 2022-08-23 09:43:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-07

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L27/02 登记生效日:20200721 变更前: 变更后: 申请日:20131209

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-07-20

    授权

    授权

  • 2016-07-20

    授权

    授权

  • 2014-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/02 申请日:20131209

    实质审查的生效

  • 2014-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/02 申请日:20131209

    实质审查的生效

  • 2014-02-26

    公开

    公开

  • 2014-02-26

    公开

    公开

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