TEM样品承载装置以及TEM样品放置系统

摘要

本实用新型公开一种TEM样品承载装置以及TEM样品放置系统中，碳膜与金属网格相对应的位置设置有样品孔，待测的样品放置于样品孔中，避免了碳膜对TEM分析造成的影响；另外，所述样品孔周围平行金属网格四边的方向均设置有参考孔，并且在金属网架表面设置一预定方向的水平标记线，如此，可以在光学显微镜下通过推动待测样品的金属网旋转，使样品与金属网架表面的水平标记线平行，对随意放置在金属网上的样品方向调整为水平，从而得到水平的TEM图；并且所述金属网可同时承载多个TEM样品送入TEM进行检测分析，进而提高了TEM分析的准确率及检测的工作效率。