公开/公告号CN203595493U
专利类型实用新型
公开/公告日2014-05-14
原文格式PDF
申请/专利权人 南京京晶光电科技有限公司;
申请/专利号CN201420064474.8
申请日2014-02-13
分类号G01B7/06(20060101);
代理机构32206 南京众联专利代理有限公司;
代理人顾进
地址 210000 江苏省南京市南京经济技术开发区恒广路58号
入库时间 2022-08-22 00:06:56
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-02
专利权的转移 IPC(主分类):G01B7/06 登记生效日:20200513 变更前: 变更后: 申请日:20140213
专利申请权、专利权的转移
2014-10-08
著录事项变更 IPC(主分类):G01B7/06 变更前: 变更后: 申请日:20140213
著录事项变更
2014-05-14
授权
授权
机译: 半导体晶片厚度分布测量系统和半导体晶片抛光系统,半导体晶片厚度分布测量方法,半导体晶片厚度去除余量分布测量方法和半导体晶片抛光方法
机译: 半导体晶片的厚度分布测量系统和半导体晶片抛光系统,半导体晶片的厚度分布测量方法和厚度容限分布测量方法,以及半导体晶片的抛光方法
机译: 晶片抛光机,厚度测量单元,在水中保持晶片的方法和厚度测量方法