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Optical micro- and nanometrology V
Optical micro- and nanometrology V
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1.
Optical frequency comb profilometry using a single pixel camera
机译:
使用单像素相机的光学频率梳轮廓仪
作者:
Yoshio Hayasaki
;
Quang Duc Pham
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Optical frequency comb;
computational imaging;
compressive sensing;
three-dimensional imaging;
femtosecond laser;
spatial light modulator;
interferometric imaging;
2.
Remote laboratory for phase-aided 3D microscopic imaging and metrology
机译:
远程实验室,用于相位辅助3D显微成像和计量
作者:
Meng Wang
;
Yongkai Yin
;
Zeyi Liu
;
Wenqi He
;
Boqun Li
;
Xiang Peng
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
remote laboratory;
3D microscopic imaging and metrology;
phase-aided active stereo;
optical authentication;
joint transform correlation (JTC);
eSciDoc;
fringe projection;
3.
Measurement comparison of goniometric scatterometry and coherent Fourier scatterometry
机译:
测角散射法和相干傅立叶散射法的测量比较
作者:
J. Endres
;
N. Kumar
;
P. Petrik
;
M.-A. Henn
;
S. Heidenreich
;
S. F. Pereira
;
H. P. Urbach
;
B. Bodermann
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Scatterometry;
CD;
pitch;
inverse diffraction problem;
4.
Development of a scatterometry reference standard
机译:
制定散射法参考标准
作者:
Bernd Bodermann
;
Bernd Loechel
;
Frank Scholze
;
Gaoliang Dai
;
Jan Wernecke
;
Johannes Endres
;
Juergen Probst
;
Max Schoengen
;
Michael Krumrey
;
Poul-Erik Hansen
;
Victor Soltwisch
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Scatterometry;
CD metrology;
traceability;
reference standard;
tool matching;
AFM;
SEM;
rigorous modelling;
5.
Optical measurements of selected properties of nanocomposite layers with graphene and carbon nanotubes fillers
机译:
用石墨烯和碳纳米管填料对纳米复合材料层的选定性能进行光学测量
作者:
Zofia Lorenc
;
Leszek Salbut
;
Anna Pakula
;
Marcin Sloma
;
Grzegorz Wroblewski
;
Malgorzata Jakubowska
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
nanocomposite;
graphene;
carbon nanotubes;
spectral transmission characteristic;
transmittance;
6.
Comparative scanning near-field optical microscopy studies of plasmonic nanoparticle concepts
机译:
等离子体纳米粒子概念的比较扫描近场光学显微镜研究
作者:
Patrick Andrae
;
Paul Fumagalli
;
Martina Schmid
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
scanning near-field optical microscopy;
near field;
illumination mode;
nanoparticle distributions;
plasmonics;
near-field absorption;
solar cells;
aperture probe SNOM;
7.
Investigation of error compensation in CGH-based form testing of aspheres
机译:
基于CGH的非球面形状测试中的误差补偿研究
作者:
S. Stuerwald
;
N. Brill
;
R. Schmitt
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
optical testing;
asphere;
freeform;
hologram;
spatial light modulator;
8.
Reconstruction-free wavefront measurements with enhanced sensitivity
机译:
无需重建的波前测量,灵敏度更高
作者:
Thomas Godin
;
Michaeel Fromager
;
Emmanuel Cagniot
;
Marc Brunel
;
Kamel Aiet-Ameur
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Wavefront;
Shack-Hartmann sensor;
lateral effect photodiode;
position sensitive detector;
Z-scan;
phase discontinuity;
9.
Optical design of a Vertically Integrated Array-type Mirau-based OCT System
机译:
垂直集成阵列型基于Mirau的OCT系统的光学设计
作者:
J.Krauter
;
T. Boettcher
;
W. Lyda
;
W. Osten
;
N. Passilly
;
L. Froehly
;
S. Bargiel
;
J.Albero
;
S.Perrin
;
J. Lullin
;
C. Gorecki
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
optical coherence tomography;
non-invasive 3D optical biopsy;
swept-source OCT;
micro optics;
interferometer array;
Mirau interferometer;
low coherence interferometry;
M(O)EMS technology;
10.
Time-frequency analysis in optical coherence tomography for technical objects examination
机译:
光学相干层析成像中的时频分析技术对象检查
作者:
Marcin R. Strakowski
;
Maciej Kraszewski
;
Michal Trojanowski
;
Jerzy Plucinski
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Optical coherence tomography;
time-frequency analysis;
spectroscopic OCT;
PS-OCT;
11.
Phase aided 3D imaging and modeling: dedicated systems and case studies
机译:
相位辅助3D成像和建模:专用系统和案例研究
作者:
Yongkai Yin
;
Dong He
;
Zeyi Liu
;
Xiaoli Liu
;
Xiang Peng
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
3D imaging and modeling (3DIM);
phase-aided active stereo;
optical measurement network;
calibration;
cultural heritage modeling;
body scanning;
12.
Size measurement of a pure phase object
机译:
纯相物体的尺寸测量
作者:
K. Aiet-Ameur
;
M. Fromager
;
M. Brunel
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Phase object;
laser beam shaping;
diffraction;
13.
Digital Holography to Light Field
机译:
数字全息术到光场
作者:
Anand Asundi
;
Chao Zuo
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
digital holography;
transport-of-intensity equation;
Light field;
phase retrieval;
14.
Metrology of undoped double-sided polished silicon wafer: surface, thickness and refractive index profile measurements
机译:
未掺杂的双面抛光硅片的计量:表面,厚度和折射率分布测量
作者:
Ho-Jae Lee
;
Ki-Nam Joo
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
undoped silicon wafer;
surface profile;
thickness profile;
refractive index;
low coherence scanning;
interferometry;
spectrally-resolved interferometry;
near-infrared;
optical dimensional metrology;
15.
Spectral properties of molecular iodine absorption cells filled to saturation pressure
机译:
填充至饱和压力的分子碘吸收池的光谱特性
作者:
Jan Hrabina
;
Martin Sarbort
;
Ondrej Cip
;
Josef Lazar
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
laser spectroscopy;
laser metrology;
molecular iodine;
absorption cells;
optical frequency references;
16.
Single-shot two-channel Talbot interferometry using checker grating and Hilbert-Huang fringe pattern processing
机译:
使用棋盘格光栅和希尔伯特-黄条纹图形处理的单脉冲两通道Talbot干涉仪
作者:
K. Patorski
;
M. Trusiak
;
K. Pokorski
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
self-imaging effect;
Talbot interferometry;
crossed fringe pattern analysis;
fast and adaptive empirical mode decomposition;
Hilbert transform;
Hilbert-Huang processing;
17.
A more robust and flexible approach to Laterally Chromatically dispersed, Spectrally encoded Interferometry (LCSI)
机译:
一种更健壮和灵活的方法,用于横向色散,频谱编码干涉测量(LCSI)
作者:
Tobias Boettcher
;
Marc Gronle
;
Florian Mauch
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
sensor characterisation;
evaluation algorithms;
surface metrology;
chromatic confocal microscopy;
spectral interferometry;
low coherence interferometry;
18.
Mapping a vibrating surface by using laser self- mixing interferometry
机译:
使用激光自混合干涉仪绘制振动表面的图
作者:
Roberto Ocana
;
Teresa Molina
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Laser self-mixing effect;
vibration measurements;
vibration amplitude measurement;
19.
Polymer waveguide sensor with tin oxide thin film integrated onto optical-electrical printed circuit board
机译:
在光电印刷电路板上集成了氧化锡薄膜的聚合物波导传感器
作者:
Jung Woon Lim
;
Seon Hoon Kim
;
Jong-Sup Kim
;
Jeong Ho Kim
;
Yune Hyoun Kim
;
Ju Young Lim
;
Young-Eun Im
;
Jong Bok Park
;
Swook Hann
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Polymer waveguide;
optical sensor;
optical-electrical PCB (O-E PCB);
Tin Oxide thin film;
2-dimensional finite-difference time-domain method (2-D FDTD);
nano imprint lithography (NIL);
gas detection;
20.
Raman spectroscopy of nanostructured silicon fabricated by metal-assisted chemical etching
机译:
金属辅助化学刻蚀制备的纳米结构硅的拉曼光谱
作者:
Igor Iatsunskyi
;
Stefan Jurga
;
Valentyn Smyntyna
;
Mykolai Pavlenko
;
Valeriy Myndrul
;
Anastasia Zaleska
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
nanosilicon;
metal-assisted chemical etching;
Raman spectroscopy;
21.
Spectral ellipsometry studying of iron's optical and electronic properties
机译:
铁的光学和电子性质的光谱椭圆仪研究
作者:
Yevheniia Chernukha
;
Vasyl S. Stashchuk
;
Olena Polianska
;
Olexsandr Oshtuk
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
liquid;
amorphous and crystal iron;
optical properties;
density of electronic states;
energy band structure;
direct and indirect transition;
22.
Towards traceable mechanical properties measurement of silicon nanopillars using contact resonance force microscopy
机译:
使用接触共振力显微镜进行可追踪的硅纳米柱力学性能测量
作者:
S. Gao
;
U. Brand
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
nano-objects;
nanopillars;
mechanical properties;
atomic force microscopy (AFM);
contact resonance force microscopy;
MEMS nanoforce transducer;
active reference spring;
23.
Development of a laser-speckle-based measurement principle for the evaluation of mechanical deformation of stacked metal sheets
机译:
基于激光散斑的测量原理的发展,用于评估堆叠金属板的机械变形
作者:
Clemens Halder
;
Thomas Thurner
;
Mathias Mair
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
optical strain measurement;
speckle extensometer;
speckle photography;
laser speckles;
24.
Automatic digital filtering for the accuracy improving of a digital holographic measurement system
机译:
自动数字滤波可提高数字全息测量系统的精度
作者:
Marcella Matrecano
;
Lisa Miccio
;
Anna Persano
;
Fabio Quaranta
;
Pietro Siciliano
;
Pietro Ferraro
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Butterworth filter;
Denoising;
Holographic interferometry;
MEMS;
Phase measurement;
25.
Active angular alignment of gauge block in system for contactless gauge block calibration
机译:
系统中量块的主动角度对准,用于非接触式量块校准
作者:
Zdenek Buchta
;
Martin Sarbort
;
Simon Rerucha
;
Vaclav Hucl
;
Martin Cizek
;
Josef Lazar
;
Ondrej Cip
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
low-coherence interferometry;
gauge block;
metrology;
26.
In-beam tracking refractometry for coordinate interferometric measurement
机译:
光束中跟踪折光法用于坐标干涉测量
作者:
Miroslava Hola
;
Josef Lazar
;
Ondrej Cip
;
Zdenek Buchta
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
refractometry;
refractive index of air;
interferometer;
measuring system;
27.
Comparison of areal measurements of the same zone of etched Si and hydroxyapatite layers on etched Si using different profiling techniques
机译:
使用不同的轮廓分析技术比较刻蚀的硅和刻蚀的硅上的羟基磷灰石层的同一区域的面积测量结果
作者:
Mohamed Guellil
;
Paul C. Montgomery
;
Pierre Pfeiffer
;
Bruno Serio
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Surface roughness;
optical profilometry;
Coherence Scanning Interferometry (CSI);
AFM;
sample marking;
silicon;
hydroxyapatite;
photolithography;
28.
3D-optical measurement system using vignetting aperture procedure
机译:
使用渐晕光圈程序的3D光学测量系统
作者:
Engelbert Hofbauer
;
Rolf Rascher
;
Konrad Wuehr
;
Felix Friedke
;
Thomas Stubenrauch
;
Benjamin Pastoetter
;
Sebastian Schleich
;
Christine Zoecke
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
Angular measurement system;
autocollimator;
vignetting field stop projection;
vignetting;
V-SPOT;
29.
Inspection technique of latent flaws on fine polished glass substrates using Stress-Induced Light Scattering Method
机译:
应力诱导光散射法检查精细抛光玻璃基板上的潜在缺陷
作者:
Yoshitaro SAKATA
;
Kazufumi SAKAI
;
Kazuhiro NONAKA
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
latent flaw;
polishing;
Stress-Induced Light Scattering Method;
Measurement on Production site;
30.
Advanced metrology for the 14 nm node double patterning lithography
机译:
14 nm节点双图案光刻的先进计量
作者:
D. Carau
;
R. Bouyssou
;
C. Dezauzier
;
M. Besacier
;
C. Gourgon
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
scatterometry;
double patterning;
overlay;
Mueller Matrix ellipsometry;
31.
Investigation of the influence of the scanning probe on SNOM near-field images using rigorous simulations including the probe
机译:
使用包括探针在内的严格模拟研究扫描探针对SNOM近场图像的影响
作者:
Markus Ermes
;
Stephan Lehnen
;
Karsten Bittkau
;
Reinhard Carius
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
near-field microscopy;
SNOM;
optical simulation;
FDTD;
topgraphy artefacts;
32.
Interferometric sensors based on sinusoidal optical path length modulation
机译:
基于正弦光路长度调制的干涉传感器
作者:
Holger Knell
;
Markus Schake
;
Markus Schulz
;
Peter Lehmann
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
|
2014年
关键词:
optical path length modulation;
micro-optical sensor;
interferometric;
periodic modulation;
phase shifting;
sinusoidal modulation;
sinusoidal phase modulating interferometer;
SPM;
33.
Ray-based calibration for the micro optical metrology system
机译:
用于微光学计量系统的基于射线的校准
作者:
Yongkai Yin
;
Meng Wang
;
Ameng Li
;
Xiaoli Liu
;
Xiang Peng
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
3D microscopy;
calibration;
general imaging model;
fringe projection;
3D imaging;
structured illumination;
34.
Optical diffraction tomography: accuracy of an off-axis reconstruction
机译:
光学衍射断层扫描:离轴重建的准确性
作者:
Julianna Kostencka
;
Tomasz Kozacki
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
tomographic reconstruction algorithm;
diffraction tomography;
filtered backprojection;
filtered backpropagation;
Rytov approximation;
35.
Limited-angle hybrid diffraction tomography for biological samples
机译:
生物样品的有限角度混合衍射层析成像
作者:
A. Kus
;
W. Krauze
;
M. Kujawinska
;
M. Filipiak
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
digital holography;
diffraction tomography;
limited-angle tomography algorithms;
3D refractive index distribution;
36.
Effects of axial scanning in confocal microscopy employing adaptive lenses (CAL)
机译:
使用自适应透镜(CAL)的共聚焦显微镜中轴向扫描的影响
作者:
N. Koukourakis
;
M. Finkeldey
;
M. Stuermer
;
N.C. Gerhardt
;
U. Wallrabe
;
M.R. Hofmann
;
J.W. Czarske
;
A. Fischer
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Confocal microscopy;
Adaptive lens;
Aberrations;
Axial scanning;
37.
A Benchmark System for the Evaluation of Selected Phase Retrieval Methods
机译:
评估所选相位检索方法的基准系统
作者:
Christian Lingel
;
Malte Hasler
;
Tobias Haist
;
Giancarlo Pedrini
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
phase retrieval;
benchmark;
38.
Optimum phase retrieval using the transport of intensity equation
机译:
使用强度方程传输的最佳相位检索
作者:
J. Martinez-Carranza
;
K. Falaggis
;
T. Kozacki
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Transport of intensity equation based solver;
Poisson equation;
Fourier Solver;
optimal separation;
axial intensity derivative;
retrieved phase;
39.
Measurement of the surface shape and optical thickness variation of a polishing crystal wafer by wavelength tuning interferometer
机译:
用波长调谐干涉仪测量抛光晶片的表面形状和光学厚度变化
作者:
Yangjin Kim
;
Kenichi Hibino
;
Ryohei Hanayama
;
Naohiko Sugita
;
Mamoru Mitsuishi
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Phase measurement;
wavelength tuning interferometer;
surface shape;
optical thickness;
optical parallel;
40.
Quantitative estimate of fs-laser induced refractive index changes in the bulk of various transparent materials
机译:
各种透明材料中fs激光诱导的折射率变化的定量估计
作者:
A. Mermillod-Blondin
;
T. Seuthe
;
M. Eberstein
;
M. Grehn
;
J. Bonse
;
A. Rosenfeld
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Laser material processing;
Quantitative phase-contrast microscopy;
Spatial light interference microscopy;
Nanometrology;
41.
Displacement measurement with intracavity interferometry
机译:
腔内干涉法测量位移
作者:
Josef Lazar
;
Miroslava Hola
;
Antonin Fejfar
;
Jiri Stuchlik
;
Jan Kocka
;
Jindrich Oulehla
;
Ondrej Cip
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
iterferometry;
refractometry;
metrology;
42.
Suppression of frequency noise of single mode laser with unbalanced fiber interferometer for subnanometer interferometry
机译:
亚纳米干涉仪用不平衡光纤干涉仪抑制单模激光的频率噪声
作者:
Radek Smid
;
Martin Cizek
;
Bretislav Mikel
;
Josef Lazar
;
Ondrej Cip
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Unbalanced interferometer;
fiber spool;
PI control;
phase noise;
43.
Investigation of baseline measurement resolution of a Si plate-based extrinsic Fabry-Perot interferometer
机译:
基于Si板的外在法布里-珀罗干涉仪的基线测量分辨率的研究
作者:
Nikolai Ushakov
;
Leonid Liokumovich
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
fiber-optic sensors;
signal processing;
MEMS characterization;
extrinsic Fabry-Perot interferometer;
thickness measurement;
EFPI;
wavelength-scanning interferometry;
picometer resolution;
44.
Metrology of micro-optical components quality using direct measurement of 3D intensity point spread function
机译:
直接测量3D强度点扩散函数的微光学元件质量计量
作者:
Maciej Baranski
;
Stephane Perrin
;
Nicolas Passilly
;
Luc Froehly
;
Sylwester Bargiel
;
Jorge Albero
;
Christophe Gorecki
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Optical metrology;
intensity point spread function;
MOEMS characterization;
microlens aberrations;
45.
Sub-kHz traceable characterization of stroboscopic scanning white light interferometer
机译:
频闪扫描白光干涉仪的亚kHz可追溯特性
作者:
V. Heikkinen
;
I. Kassamakov
;
T. Paulin
;
A. Nolvi
;
J. Seppae
;
A. Lassila
;
E. Haeggstroem
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
SSWLI;
traceability;
MEMS;
NEMS;
46.
Three-dimensional surface reconstruction by combining a pico-digital projector for structured light illumination and an imaging system with high magnification and high depth of field
机译:
通过组合用于结构化光照明的微数字投影仪和具有高放大倍率和高景深的成像系统,进行三维表面重建
作者:
A. Leong-Hoie
;
B. Serio
;
P. Twardowski
;
P. Montgomery
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Structured Illumination Microscopy (SIM);
Mini projector;
Pico DLP;
3D surface reconstruction;
Phase shifting;
47.
Fingerprint authentication via joint transform correlator and its application in remote access control of a 3D microscopic system
机译:
通过联合变换相关器进行指纹认证及其在3D显微系统的远程访问控制中的应用
作者:
Wenqi He
;
Hongji Lai
;
Meng Wang
;
Zeyi Liu
;
Yongkai Yin
;
Xiang Peng
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Fingerprint authentication;
Joint transform correlator;
Remote access control;
3D microscopic;
48.
Tilt angle measurement with a Gaussian-shaped laser beam tracking
机译:
高斯形激光束跟踪的倾斜角测量
作者:
Martin Sarbort
;
Simon Rerucha
;
Petr Jedlicka
;
Josef Lazar
;
Ondrej Cip
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
optical alignment;
tilt angle measurement;
laser beam tracking;
metrology;
49.
A dual-styli micro-machined system for precise determination of the thickness of free-standing thin films
机译:
双测针微加工系统,用于精确确定自支撑薄膜的厚度
作者:
Zhi Li
;
Sai Gao
;
Helmut Wolff
;
Uwe Brand
;
Ludger Koenders
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
free-standing membrane;
thickness measurement;
laser interferometer;
Micro-electromechanical system;
Nano-force sensing;
Nanometrology;
50.
Common-path configuration in Total Internal Reflection Digital Holography Microscopy
机译:
全内反射数字全息显微术中的公共路径配置
作者:
M. Matrecano
;
A. Calabuig
;
M. Paturzo
;
P. Ferraro
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Total internal reflection;
Digital holography;
Phase shift;
Interference microscopy;
Cubic Phase Plate;
51.
Asymmetric Polarization-based Frequency Shifting Interferometer for Microelectronics
机译:
基于非对称极化的微电子移频干涉仪
作者:
Seung Hyun Lee
;
Min Young Kim
会议名称:
《Optical micro- and nanometrology V》
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2014年
关键词:
Frequency Shifting Interferomter;
Polarization;
3D profilometry;
Microelectronics Inspection;
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