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在玻璃基片上低温沉积InN薄膜的方法

摘要

本发明属于新型光电材料沉积制备技术领域,提供一种可制备电学性能良好的InN光电薄膜的在玻璃基片上低温沉积InN薄膜的方法。本发明包括以下步骤:1)将玻璃基片依次用丙酮、乙醇、去离子水超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;2)采用ECR-PEMOCVD系统,将反应室抽真空,玻璃基片加热至20400℃,再向反应室内通入氢气携带的三甲基铟、氮气,三甲基铟与氮气流量比为(24):(100200),控制气体总压强为0.82.0Pa,电子回旋共振反应30min3h,得到在玻璃基片的InN光电薄膜。

著录项

  • 公开/公告号CN103334088B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-02-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 辽宁太阳能研究应用有限公司;

    申请/专利号CN201310298357.8

  • 发明设计人 郑洪;鞠振河;张东;

    申请日2013-07-17

  • 分类号

  • 代理机构沈阳亚泰专利商标代理有限公司;

  • 代理人史旭泰

  • 地址 110136 辽宁省沈阳市沈北新区蒲城路26号

  • 入库时间 2022-08-23 09:35:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-24

    授权

    授权

  • 2013-11-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C16/34 申请日:20130717

    实质审查的生效

  • 2013-10-02

    公开

    公开

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