首页> 中国专利> 一种充分检测空指针引用缺陷的方法

一种充分检测空指针引用缺陷的方法

摘要

本发明公开了一种充分检测空指针引用缺陷的方法,包括:基于抽象语法树识别出被测应用的全部可寻址表达式;根据控制流图对被测应用进行保守的区间运算与指针分析并根据区间运算与指针分析的结果,生成函数摘要;根据所述函数摘要以及抽象语法树识别出全部的指针引用以及被引用的指针,并对每个被引用的指针创建空指针引用缺陷状态机实例;基于控制流图运行空指针引用缺陷状态机实例,在控制流图的每个节点上,根据区间运算、指针分析的结果对每个缺陷状态机实例进行状态迁移,进行空指针引用检测。采用本发明,能有效解决空指针引用缺陷的漏报问题,实现空指针引用缺陷检测零漏报及低误报。

著录项

  • 公开/公告号CN103218296B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京邮电大学;

    申请/专利号CN201310141769.0

  • 申请日2013-04-22

  • 分类号

  • 代理机构北京派特恩知识产权代理有限公司;

  • 代理人张振伟

  • 地址 100876 北京市海淀区西土城路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:32:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-02

    授权

    授权

  • 2013-08-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/36 申请日:20130422

    实质审查的生效

  • 2013-07-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号