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一种静态测试空指针引用缺陷假阳性识别方法

摘要

一种静态测试空指针引用缺陷假阳性识别方法,针对软件静态测试空指针引用缺陷假阳性问题,提取待测程序静态测试缺陷报告和软件历史仓库中的空指针引用缺陷知识;通过空指针引用缺陷模式提取空指针引用缺陷引发条件并与空指针引用缺陷知识对比,确定空指针引用缺陷关联属性组,构造空指针引用缺陷数据集;通过基于粗糙集理论属性重要性的ID3算法分类空指针引用缺陷数据集,用分类结果进行空指针引用缺陷假阳性识别,确认真实空指针引用缺陷。本发明结合空指针引用缺陷知识和基于粗糙集理论属性重要性的ID3分类算法进行静态测试空指针引用缺陷假阳性识别,提高了静态测试空指针引用缺陷检测效率和稳定性,降低了空指针引用缺陷确认开销。

著录项

  • 公开/公告号CN106991050B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安邮电大学;

    申请/专利号CN201710216872.5

  • 发明设计人 王曙燕;孙家泽;权雅菲;

    申请日2017-04-05

  • 分类号

  • 代理机构北京汇信合知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴甘棠

  • 地址 710000 陕西省西安市长安南路563号

  • 入库时间 2022-08-23 10:59:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-29

    授权

    授权

  • 2017-08-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/36 申请日:20170405

    实质审查的生效

  • 2017-07-28

    公开

    公开

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