退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN102064074B
专利类型发明专利
公开/公告日2015-10-14
原文格式PDF
申请/专利权人 FEI公司;
申请/专利号CN201010550058.5
发明设计人 A·亨斯特拉;
申请日2010-11-18
分类号
代理机构中国专利代理(香港)有限公司;
代理人刘金凤
地址 美国俄勒冈州
入库时间 2022-08-23 09:30:07
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-10-14
授权
2013-01-02
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/153 申请日:20101118
实质审查的生效
2011-05-18
公开
机译: 粒子光学透镜轴向像差校正器
机译:扫描透射电镜中用于自动像差校正器的Ronchigram像差中心的确定
机译:用于单色仪和像差校正器的维恩滤波器的三阶像差理论。
机译:补偿带电粒子透镜的所有主要色差和几何像差的超校正器的轮廓
机译:用于校正厚全息光学透镜元件的像差的计算机生成的全息图
机译:使用压电元件在光学透镜上进行动态粒子排斥。
机译:用于最大轴向分辨率的三维像差校正扫描透射电子显微镜的优化解卷积
机译:适用于无晶状体像差的轴向B扫描的眼动波束形成:采用20MHz线性阵列的体外和离体结果
机译:用于测量阿贡国家实验室中性粒子束试验台像差的针孔诊断系统。