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用于确定粒子-光学透镜的像差函数的像差系数的方法

摘要

粒子-光学设备的透镜(如物镜)具有像差这一缺点。正如数十年来众所周知的,龙基图可用来确定粒子-光学透镜的这些像差。这样的方法依赖于比如在一个或一组龙基图中局部放大率的基础上像差函数的二阶导数的确定。取决于二阶导数,这些方法的数学只允许龙基图之间的(无穷)小的移位。然而,这意味着比如记录龙基图的相机的空间量化噪音导致较大的误差。这些冲突需求限制了精度并且因此限制了已知方法的有效性。本发明描述了一组算法,所述的算法产生改进的方法以此利用一组龙基图量化透镜像差系数。

著录项

  • 公开/公告号CN1979751B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-01-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FEI公司;

    申请/专利号CN200610168858.4

  • 发明设计人 C·科克;M·J·V·D·詹德;B·里杰;

    申请日2006-12-06

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张亚宁

  • 地址 美国俄勒冈州

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-01-26

    授权

    授权

  • 2008-08-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-06-13

    公开

    公开

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