公开/公告号CN102914945B
专利类型发明专利
公开/公告日2015-05-13
原文格式PDF
申请/专利权人 上海微电子装备有限公司;
申请/专利号CN201110222156.0
申请日2011-08-04
分类号G03F7/20(20060101);
代理机构11278 北京连和连知识产权代理有限公司;
代理人王光辉
地址 201203 上海市浦东区张江高科技园区张东路1525号
入库时间 2022-08-23 09:25:23
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-04-27
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G03F 7/20 变更前: 变更后: 申请日:20110804
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2015-05-13
授权
授权
2015-05-13
授权
授权
2013-03-20
实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20110804
实质审查的生效
2013-03-20
实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20110804
实质审查的生效
2013-02-06
公开
公开
2013-02-06
公开
公开
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机译: 补偿曝光误差的方法,器件制造方法,衬底台,光刻设备,控制系统,用于测量反射率的方法和用于测量EUV辐射剂量的方法
机译: 补偿曝光误差的方法,器件制造方法,衬底台,光刻设备,控制系统,反射率的测量方法和EUV辐射剂量的测量方法
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