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浸没式光刻系统以及浸没式光刻中原地清洁透镜的方法

摘要

提供了一种浸没式光刻设备,其包括:能量源;投影光学系统;台;包括浸没液体供应装置和浸没液体排出装置的喷头在曝光区域内产生液体流;和清洁装置,所述清洁装置使用清洁气体清洁投影光学系统与浸没液体接触的部分。在实施例中,清洁装置包括向曝光区域提供清洁气体流的气体供应装置和气体排出装置。在实施例中,该设备包括含有剂量传感器和/或紫外光源的台。还提供了一种用于在具有向浸没式光刻系统的曝光区域提供浸没流体的浸没流体喷头的浸没式光刻系统中原地清洁最后的透镜元件的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN102073221B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML控股股份有限公司;

    申请/专利号CN201110022569.4

  • 申请日2008-02-14

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王波波

  • 地址 荷兰维德霍温

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G03F 7/20 授权公告日:20131106 终止日期:20160214 申请日:20080214

    专利权的终止

  • 2013-11-06

    授权

    授权

  • 2011-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20080214

    实质审查的生效

  • 2011-05-25

    公开

    公开

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