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一种通过STDF文件处理晶圆首测和重测信息的方法

摘要

本发明揭示了一种通过STDF文件处理晶圆首测和重测信息的方法,所述方法包括如下步骤:S100、根据STDF文件的存储路径链接到所述STDF文件;S200、根据所述存储路径读取所述STDF文件,按照STDF文件的规范寻找首测和重测所对应的字段并读取其数据,所述字段至少包括关于测试时间的字段,关于BIN的字段,关于DIE坐标的字段;S300、根据所述字段的数据,输出晶圆首测和晶圆重测的信息。本发明摒弃了现有技术中容易出错且低效的方法,更加快捷方便,且不容易出错,方便作业人员快速并精确的进行首测和重测信息的统计和分析。

著录项

  • 公开/公告号CN114253918A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海利扬创芯片测试有限公司;

    申请/专利号CN202111578803.1

  • 发明设计人 张亦锋;徐展菲;庄启升;

    申请日2021-12-22

  • 分类号G06F16/172(20190101);G06F16/14(20190101);G06F16/13(20190101);

  • 代理机构11760 北京前审知识产权代理有限公司;

  • 代理人张波涛;尹秀峰

  • 地址 201800 上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层

  • 入库时间 2023-06-19 14:42:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-29

    公开

    发明专利申请公布

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