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基于衬底导电孔的GaN基HEMT器件及其制备方法

摘要

本发明提供一种基于衬底导电孔的GaN基HEMT器件及其制备方法,先在衬底中形成深沟槽并填充导电材料层形成导电孔,同时通过在外延层结构中制备源极深孔将源极金属连接至该导电孔,后续在GaN基HEMT器件正面结构制作完成后减薄将导电孔从衬底背面显露出来,避免了后期衬底的背刻蚀,避免了刻蚀对器件的正面结构的损伤,从而有效提高器件的良率,节省生产设备及成本。本发明由于在器件正面结构制备完成后,不再有复杂的深刻蚀、电镀等工艺步骤,可以降低后续工艺对于器件可靠性的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN113394281A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海新微半导体有限公司;

    申请/专利号CN202110610203.2

  • 发明设计人 刘胜北;

    申请日2021-06-01

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L29/06(20060101);H01L21/335(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人罗泳文

  • 地址 200120 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼

  • 入库时间 2023-06-19 12:33:50

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