公开/公告号CN112988792A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-18
原文格式PDF
申请/专利权人 筏渡(上海)科技有限公司;
申请/专利号CN202110407543.5
申请日2021-04-15
分类号G06F16/245(20190101);G06F16/28(20190101);G06F16/248(20190101);
代理机构11309 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人周良玉
地址 200090 上海市杨浦区长阳路1687号东1223幢(A楼)三层A307
入库时间 2023-06-19 11:29:13
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-05-31
授权
发明专利权授予
机译: 用于半导体器件制造的良率损失计算和故障模式分类,涉及使用具有相同故障模式和晶圆良率损失值的晶圆片数
机译: 使用区域产量数据(例如,于制造半导体器件,涉及准备良率数据表,其中包含已处理晶圆的多个区域良率
机译: 调整裸片在半导体晶圆上的位置以提高良率