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公开/公告号CN112768348A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-07
原文格式PDF
申请/专利权人 复旦大学;
申请/专利号CN202110059078.0
发明设计人 江安全;陈一凡;庄晓;江钧;汪超;
申请日2021-01-18
分类号H01L21/306(20060101);H01L21/3063(20060101);H01L21/3065(20060101);H01L21/308(20060101);
代理机构31200 上海正旦专利代理有限公司;
代理人陆飞;陆尤
地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号
入库时间 2023-06-19 10:54:12
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-05-20
授权
发明专利权授予
机译: 一种用于装饰面部材料的装置,其末端与pappkart的彼此成一定角度的侧壁成一定角度
机译: 一种在湿法刻蚀和湿法刻蚀过程中以相同形状提高刻蚀速度的方法
机译: 刻蚀组合物,特别是硅材料的刻蚀组合物,一种表征这种材料表面缺陷的方法,以及用该刻蚀组合物处理此类表面的过程
机译:氩等离子体感应耦合等离子体反应离子刻蚀研究在光滑侧壁薄膜铌酸锂波导中的应用
机译:采用液面自组织的方法在洁净的玻璃片表面铺设单层六方密排的聚苯乙烯胶体球阵列,通过改变等离子 刻蚀的时间实现对胶体小球的直径控制,结合离子溅射Au膜和磁控溅射MoO2膜,最终构筑成为一种新颖的MoO2/Au微纳阵列结构,利用扫描电镜对所合成材料进行形貌表征;同时重点利用接触角测量仪对 微纳阵列薄膜的浸润性进行研究,分析水在微纳阵列表面所形成的接触角的角度变化,结果显示沉积 MoO2/Au微纳阵列比相应的Au微纳阵列更加亲水,有利于材料在水溶液中进行电化学反应。
机译:GaAs湿法刻蚀过程中使用UV LED控制侧壁角度
机译:通过采用低侧壁粗糙度的深反应性离子刻蚀技术,逐步开发出锥孔刻蚀工艺,用于硅通孔应用
机译:在使用Langmuir探针和光发射光谱法的深反应离子刻蚀系统中,等离子体表征和刻蚀速率以及通孔侧壁角度相关。
机译:侧壁耳蜗植入电极阵列的角度插入深度的术前预测
机译:一种新的剪裁优化方法,可提高层压和三明治复合材料结构响应和能量吸收能力
机译:NaL(国家航空航天实验室)二维跨音速风洞的流动质量。第1部分。马赫数分布,流动角度和侧壁边界层吸力的初步研究