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氮化物半导体的晶体生长方法和半导体装置的制造方法

摘要

本发明提供一种氮化物半导体层的形成方法,其包括步骤(S1),其将至少在上面具有m面氮化物半导体晶体的基板配置于MOCVD装置的反应室内;升温步骤(S2),其加热反应室内的基板,使基板的温度上升;和生长步骤(S3),其在基板上使氮化物半导体层生长。在升温步骤(S2)中,向反应室内提供氮原料气体和III族元素原料气体,可以形成即使厚度为400nm也具有平滑的表面的m面氮化物半导体晶体,也可以大幅缩短其形成时间。

著录项

  • 公开/公告号CN102067286B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN200980115958.2

  • 申请日2009-11-26

  • 分类号H01L21/205(20060101);C23C16/34(20060101);H01L33/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汪惠民

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-03-06

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/205 申请日:20091126

    实质审查的生效

  • 2011-05-18

    公开

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