公开/公告号CN111604247A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-01
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉钢铁有限公司;
申请/专利号CN202010403148.5
申请日2020-05-13
分类号B05D7/14(20060101);B05C11/10(20060101);B05C1/08(20060101);B05D1/28(20060101);B05D3/02(20060101);
代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;
代理人钟锋
地址 430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门内
入库时间 2023-06-19 08:08:08
机译: 光学记录介质,光学记录介质的膜厚测量方法,膜厚控制方法和生产方法
机译: 用于膜厚监测装置的传感器,具有该膜厚监测装置的膜厚监测装置以及用于生产膜厚监测装置的传感器的方法
机译: 膜厚测量方法,膜厚控制方法,膜厚控制装置