X射线荧光光谱法测定彩涂板无铬预钝化层膜厚

摘要

预钝化涂层膜厚是彩涂板生产过程中的重要指标之一,准确测量钝化层膜厚对彩涂板产品质量具有重要意义.根据XRF的检测原理和设备特点,使用台式XRF对常见彩涂板无铬预钝化层中特征元素Si、Zr含量进行分析检测,并将FP法与标准曲线法两种测定方法进行了对比.结果表明,XRF对纳米级钝化层厚度检测具有良好的准确性和稳定性,可以高速、有效地应用于彩涂板无铬预钝化层膜厚的分析;相较FP法,标准曲线法偏差更小,测定结果精确度更高.