要解决的问题:为了通过透射法容易地测量半透明反射层的膜厚,在光学记录介质中,其中在基板和半透明反射层之间设置有诸如记录层的另一层。
解决方案:在透光基板1和半透明反射层3之间设有另一层(例如记录层2)的光记录介质中,半透明反射层3的区域形成得更宽。相对于另一层的区域的规定区域W 版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP4050993B2
专利类型
公开/公告日2008-02-20
原文格式PDF
申请/专利权人 三菱化学メディア株式会社;
申请/专利号JP20030076914
申请日2003-03-20
分类号G11B7/24;G11B7/244;G11B7/26;G01B11/06;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:18:01