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Ⅲ族氮化物单晶体和含该Ⅲ族氮化物单晶体的半导体器件

摘要

提供一种制造III族氮化物单晶体的方法,由此提高源材料产量和增加晶体生长速率。一种III族氮化物单晶体制造方法,其中在衬底(1)和III族氮化物源材料衬底(2)之间形成200μm以下厚度的液体层(3),以及在衬底(1)的液体层侧面上的表面(1s)上生长III族氮化物单晶体(4)。在此,液体层侧面上的至少表面层(1a)中的衬底(1)可以由III族氮化物单晶体形成,而III族氮化物源材料衬底(2)可以由III族氮化物多晶体形成。而且,液体层侧面上的至少表面层(1a)中的衬底(1)和III族氮化物源材料衬底(2)可以由III族氮化物单晶体形成,而衬底(1)的液体层侧面上的表面(1s)可以被制成III族原子表面,以及III族氮化物源材料衬底(2)的液体层侧面上的表面(2s)可以被制成氮原子表面。

著录项

  • 公开/公告号CN101503825B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-01-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 住友电气工业株式会社;

    申请/专利号CN200910007530.8

  • 发明设计人 中畑成二;

    申请日2005-07-13

  • 分类号

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人陈海涛

  • 地址 日本大阪府大阪市

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C30B 29/38 授权公告日:20130123 终止日期:20180713 申请日:20050713

    专利权的终止

  • 2013-01-23

    授权

    授权

  • 2013-01-23

    授权

    授权

  • 2009-10-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-10-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-12

    公开

    公开

  • 2009-08-12

    公开

    公开

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