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一种通过离子注入Zn+控制ZnO单晶中缺陷的方法

摘要

本发明公开了一种通过离子注入Zn+来控制ZnO单晶中缺陷的方法,该方法通过离子注入将Zn+注入ZnO单晶中以控制缺陷,具体为将ZnO单晶清洗、烘干,采用离子注入机将Zn+注入ZnO单晶中,再在氮气保护下采用快速退火处理5min,退火温度为650~750℃,冷却后取出ZnO单晶样品。采用本发明的方法可以有效控制ZnO单晶中缺陷的类型和浓度,以供更好地进行ZnO缺陷定性研究,该方法控制缺陷稳定,重复性好,可控性强。

著录项

  • 公开/公告号CN106567129A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201610996224.1

  • 发明设计人 何海平;李烁星;叶志镇;

    申请日2016-11-11

  • 分类号C30B31/22(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人万尾甜;韩介梅

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2023-06-19 01:53:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-13

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C30B31/22 申请公布日:20170419 申请日:20161111

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-05-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B31/22 申请日:20161111

    实质审查的生效

  • 2017-04-19

    公开

    公开

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