首页> 外文期刊>Physica status solidi >Defects in N~+ ion-implanted ZnO single crystals studied by positron annihilation and Hall effect
【24h】

Defects in N~+ ion-implanted ZnO single crystals studied by positron annihilation and Hall effect

机译:通过正电子an没和霍尔效应研究了N〜+离子注入的ZnO单晶中的缺陷

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

High quality ZnO single crystals of dimensions 10 × 10 × 0.5 mm~3, grown by a hydrothermal approach, have been implanted by 40 keV N~+ ions to a fluence of 1 × 10~(15) cm~2 at room temperature. Their properties revealed by positron annihilation and Hall effect measurements are given in the as-grown and as-irradiated states, and after post-implantation annealing in an oxygen ambient at 200 ℃ and 500 ℃.
机译:通过水热法生长的尺寸为10×10×0.5 mm〜3的高质量ZnO单晶已在室温下以40 keV N〜+离子注入到1×10〜(15)cm〜2的注量中。通过正电子an没和霍尔效应测量揭示了它们的性质,并在生长和辐射状态下以及在200℃和500℃的氧气环境中进行了植入后退火后给出了它们的性质。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号