机译:通过正电子an没和霍尔效应研究了N〜+离子注入的ZnO单晶中的缺陷
Institut fur Ionenstrahlphysik und Materialforschung, Forschungszentrum Rossendorf, Postfach 510119, 01314 Dresden, Germany;
point defects (vacancies, interstitials, color centers, etc.) and defect clusters; doping and impurity implantation in Ⅲ-Ⅴ and Ⅱ-Ⅵsemiconductors; galvanomagnetic and other magnetotransport effects; positron annihilation;
机译:通过正电子ni没,霍尔效应和深层瞬态光谱研究了原始和N〜+注入的ZnO单晶中的缺陷
机译:正电子ni没研究单晶ZnO纳米锥中Mn取代下的空位型缺陷及其演化
机译:ZnO中Er〜(3+)引起的点缺陷以及Li〜+ / Na〜+ / K〜+对ZnO:Er中空位缺陷的影响
机译:正电子an没研究离子注入硅晶体中缺陷的产生和退火机理
机译:正电子和电子能带和波函数,费米表面,态密度,铍的霍尔系数和正电子AN灭,采用了新的布里渊区集成技术。
机译:掺有稀土元素Er3 +的碲化物玻璃70TeO2-5XO-10P2O5-10ZnO-5PbF2(X = MgBi2Ti)的正电子ni没寿命光谱法测量缺陷结构
机译:通过正电子an没,x射线衍射,卢瑟福背散射,阴极发光和霍尔测量研究ZnO中的缺陷的生长后退火
机译:离子注入ZNO单晶的电场研究