一种用于加速芯片仿真和调试的方法和芯片测试系统

摘要

本发明涉及一种用于在芯片测试系统中加速芯片仿真和调试的方法，所述芯片测试系统包括待测子系统和激励子系统，其中，所述激励子系统充当所述待测子系统的激励源并且为所述待测子系统提供激励信号，其中，所述激励子系统能够被虚拟激励发生器替换，所述虚拟激励发生器被配置成产生虚拟激励信号，所述虚拟激励信号与所述激励子系统的激励信号相同。此外，本发明还涉及一种配置成用于实现在芯片测试系统中加速芯片仿真和调试的方法的芯片测试系统。