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碳化硅衬底、设置有外延层的衬底、半导体器件和用于制造碳化硅衬底的方法

摘要

本发明提供了一种碳化硅衬底、设置有外延层的衬底、半导体器件和用于制造碳化硅衬底的方法,它们都实现了导通电阻的减小。碳化硅衬底(10)是具有主表面的碳化硅衬底(10),并且包括:SiC单晶衬底(1),其形成在所述主表面的至少一部分中;以及基底构件(20),其被设置成环绕所述SiC单晶衬底(1)。所述基底构件(20)包括边界区域(11)和基底区域(12)。边界区域(11)在沿着所述主表面的方向上与所述SiC单晶衬底(1)相邻并且在边界区域(11)内部具有晶粒边界。基底区域(12)在垂直于所述主表面的方向上与所述SiC单晶衬底(1)相邻并且具有的杂质浓度高于所述SiC单晶衬底(1)的杂质浓度。

著录项

  • 公开/公告号CN102473604A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 住友电气工业株式会社;

    申请/专利号CN201180002713.6

  • 申请日2011-02-21

  • 分类号H01L21/20(20060101);H01L21/205(20060101);

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人韩峰;孙志湧

  • 地址 日本大阪府大阪市

  • 入库时间 2023-12-18 05:25:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-02-25

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/20 申请公布日:20120523 申请日:20110221

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-07-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/20 申请日:20110221

    实质审查的生效

  • 2012-05-23

    公开

    公开

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