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包括弛豫衬里的栅控二极管结构和方法

摘要

一种栅控二极管结构和用于在SOI衬底(10)上制造栅控二极管结构的方法,使用弛豫衬里(34’),该弛豫衬里源自在与栅控二极管结构同时形成的场效应晶体管中典型地使用的应力衬里(34)。通过对应力衬里(34)的诸如离子注入处理的处理而形成所述弛豫衬里。所述弛豫衬里与应力衬里相比改善了栅控二极管理想度而没有对栅控二极管的任何损害,而在使用反应离子蚀刻方法从栅控二极管剥离应力衬里则会发生对栅控二极管的损害。

著录项

  • 公开/公告号CN102356456A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN201080012138.3

  • 申请日2010-02-11

  • 分类号H01L21/33(20060101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人于静;杨晓光

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2023-12-18 04:25:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-11-12

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/33 申请公布日:20120215 申请日:20100211

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-03-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/33 申请日:20100211

    实质审查的生效

  • 2012-02-15

    公开

    公开

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