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一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法

摘要

本发明公开了一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法,该方法通过确定参考单元电流区间来设定参考单元电流的值,从而实现对参考单元电流值的平移,克服了由于参考单元电流设定固定值而带来的可能使EEPROM单元在测试中出现大批失效的问题,提高了测试良率;同时该方法通过首先采用选取参考单元电流区间的最小值来测试EEPROM的“1”状态,选取参考单元电流区间的最大值来测试EEPROM的“0”状态”的步骤可先筛选出少数失效的EEPROM单元,从而预留出读取EEPROM“1”状态和“0”状态的检测余量,提高了出厂后EEPROM读取的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN102163461A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州聚元微电子有限公司;

    申请/专利号CN201110112293.9

  • 发明设计人 韩兴成;万海军;韩雨亭;

    申请日2011-05-03

  • 分类号G11C29/08;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 215000 江苏省苏州市苏州高新技术产业开发区科技城科创路18号

  • 入库时间 2023-12-18 03:08:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-04

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11C29/08 申请公布日:20110824 申请日:20110503

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/08 申请日:20110503

    实质审查的生效

  • 2011-08-24

    公开

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