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1.
LMS-based RF BIST architecture for multistandard transmitters
机译:
基于LMS的RF BIST体系结构,用于多标准发射机
作者:
Dogaru Emanuel
;
Santos Filipe Vinci dos
;
Rebernak William
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
BIST;
LMS calibration;
Periodically nonuniform sampling;
mixed-signal test;
software radios;
spectral mask estimation;
time-skew estimation;
undersampling;
2.
Synthesis of workload monitors for on-line stress prediction
机译:
综合工作量监视器以进行在线压力预测
作者:
Baranowski Rafal
;
Cook Alejandro
;
Imhof Michael E.
;
Liu Chang
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
NBTI;
Reliability estimation;
aging prediction;
workload monitoring;
3.
On the correlation between Static Noise Margin and Soft Error Rate evaluated for a 40nm SRAM cell
机译:
关于40nm SRAM单元评估的静态噪声裕度和软错误率之间的相关性
作者:
Vatajelu Elena I.
;
Tsiligiannis G.
;
Dilillo L.
;
Bosio A.
会议名称:
《》
|
2013年
关键词:
SER;
SNM;
SRAM;
neutron radiation;
process variability;
4.
Robustness improvement of an SRAM cell against laser-induced fault injection
机译:
增强SRAM单元抗激光引起的故障注入的鲁棒性
作者:
Sarafianos Alexandre
;
Lisart Mathieu
;
Gagliano Olivier
;
Serradeil Valerie
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
1064nm wavelength;
SEU;
SRAM cell;
electrical simulation;
pulsed PLS;
robusteness;
5.
Title pages
机译:
标题页
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
6.
Classes of difficult-to-diagnose transition fault clusters
机译:
难以诊断的过渡故障簇类
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Fault diagnosis;
full-scan circuits;
multiple transition faults;
7.
Mixed structural-functional path delay test generation and compaction
机译:
混合结构功能路径延迟测试的生成和压实
作者:
Bian Kun
;
Walker D.M.H.
;
Khatri Sunil P.
;
Lahiri Shayak
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
8.
A data mining approach to incremental adaptive functional diagnosis
机译:
一种增量自适应功能诊断的数据挖掘方法
作者:
Bolchini Cristiana
;
Quintarelli Elisa
;
Salice Fabio
;
Garza Paolo
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
9.
A fast TCAD-based methodology for Variation analysis of emerging nano-devices
机译:
基于TCAD的快速方法,用于新兴纳米设备的变异分析
作者:
Mohammadi Hassan Ghasemzadeh
;
Gaillardon Pierre-Emmanuel
;
Yazdani Majid
;
De Micheli Giovanni
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
10.
Low power and high speed current-mode memristor-based TLGs
机译:
基于低功耗和高速电流模式忆阻器的TLG
作者:
Dara Chandra Babu
;
Haniotakis Themistoklis
;
Tragoudas Spyros
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Memristor;
Threshold logic gates;
current mode;
operating speed;
power;
11.
Approximate simulation of circuits with probabilistic behavior
机译:
具有概率行为的电路的近似仿真
作者:
Paler Alexandru
;
Kinseher Josef
;
Polian Ilia
;
Hayes John P.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Emerging technologies;
probabilistic simulation;
quantum circuits;
stochastic computing;
12.
Shielding heterogeneous MPSoCs from untrustworthy 3PIPs through security-driven task scheduling
机译:
通过安全性驱动的任务调度将异构MPSoC与不受信任的3PIP隔离
作者:
Liu Chen
;
Rajendran Jeyavijayan
;
Yang Chengmo
;
Karri Ramesh
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Hardware Trojan;
Heterogeneous MPSoCs;
Multi-dimension Optimization;
Security;
Task Scheduling;
13.
F-DICE: A multiple node upset tolerant flip-flop for highly radioactive environments
机译:
F-DICE:一个多节点心烦宽容触发器的高放射性环境
作者:
Campitelli Stefano
;
Ottavi Marco
;
Pontarelli Salvatore
;
Marchioro Alessandro
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Flip flop;
Multiple node upset;
radiation;
14.
Unified 3D test architecture for variable test data bandwidth across pre-bond, partial stack, and post-bond test
机译:
统一的3D测试架构,可在预绑定,部分堆栈和后绑定测试中提供可变的测试数据带宽
作者:
Lee Yu-Wei
;
Touba Nur A.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
3D test;
test access mechanism;
test scheduling;
15.
Analyzing circuit vulnerability to hardware Trojan insertion at the behavioral level
机译:
在行为级别分析电路对硬件木马插入的漏洞
作者:
Salmani Hassan
;
Tehranipoor Mohammed
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
16.
Secure Split-Test for preventing IC piracy by untrusted foundry and assembly
机译:
安全拆分测试,可防止不受信任的代工厂和组装人员盗版集成电路
作者:
Contreras Gustavo K.
;
Rahman Md.Tauhidur
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Counterfeit ICs;
IP piracy;
IP protection;
supply chain;
untrusted foundry and assembly;
17.
Differential analysis of Round-Reduced AES faulty ciphertexts
机译:
舍入式AES错误密文的差异分析
作者:
Mirbaha Amir-Pasha
;
Dutertre Jean-Max
;
Tria Assia
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
18.
Charge sharing aware NCL gates design
机译:
电荷共享意识的NCL门设计
作者:
Moreira Matheus T.
;
Oliveira Bruno S.
;
Moraes Fernando G.
;
Calazans Ney L.V.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
charge sharing;
null convention logic;
reliability;
19.
SmartInjector: Exploiting intelligent fault injection for SDC rate analysis
机译:
SmartInjector:利用智能故障注入进行SDC速率分析
作者:
Li Jianli
;
Tan Qingping
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Fault injection;
Fault outcome prediction;
Program analysis;
Transient faults;
20.
Built-in Self-Repair in a 3D die stack using programmable logic
机译:
使用可编程逻辑在3D芯片堆叠中内置的自我修复
作者:
Nepal Kundan
;
Shen Xi
;
Dworak Jennifer
;
Manikas Theodore
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
21.
A smart Trojan circuit and smart attack method in AES encryption circuits
机译:
AES加密电路中的智能木马电路和智能攻击方法
作者:
Yoshimura Masayoshi
;
Ogita Amy
;
Hosokawa Toshinori
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
AES Encryption Circuits;
Design-for-Testability;
Secure Design;
Trojan Circuit;
22.
On-chip error correction with unreliable decoders: Fundamental physical limits
机译:
使用不可靠的解码器进行片上纠错:基本物理限制
作者:
Ganesh Natesh
;
Anderson Neal G.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
23.
Reconfigurable distributed fault tolerant routing algorithm for on-chip networks
机译:
片上网络的可重构分布式容错路由算法
作者:
Kumar Manoj
;
Pankaj
;
Laxmi Vijay
;
Gaur Manoj Singh
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
LBDR;
Networks on Chip;
deadlock freedom;
fault-tolerance;
24.
BIST for logic and local interconnect resources in a novel mesh of cluster FPGA
机译:
在新型集群FPGA FPGA中用于逻辑和本地互连资源的BIST
作者:
Rehman Saif-Ur
;
Benabdenbi Mounir
;
Anghel Lorena
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
BIST;
SRAM-based;
diagnosis;
interconnect;
intra-cluster;
mesh of cluster;
novel FPGA;
test;
25.
Testing of switch blocks in TSV-reduced Three-Dimensional FPGA
机译:
在经过TSV缩减的三维FPGA中测试开关模块
作者:
Maebashi Kouta
;
Namba Kazuteru
;
Kitakami Masato
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Three-Dimensional FPGA;
built-in self-testing (BIST);
manufacturing testing;
switch block (SB);
through silicon via (TSV);
26.
Evaluating CLB designs under multiple SETs in SRAM-based FPGAs
机译:
在基于SRAM的FPGA中的多个SET下评估CLB设计
作者:
Dhia Arwa Ben
;
Naviner Lirida
;
Matherat Philippe
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
27.
Technology-aware system failure analysis in the presence of soft errors by Mixture Importance Sampling
机译:
通过混合重要性抽样在存在软错误的情况下对技术敏感的系统故障分析
作者:
Kleeberger Veit B.
;
Mueller-Gritschneder Daniel
;
Schlichtmann Ulf
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
28.
Efficient compression of x-masking control data via dynamic channel allocation
机译:
通过动态通道分配有效压缩x-masking控制数据
作者:
Bawa Asad A.
;
Rab M.Tauseef
;
Touba Nur A.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
X-masking;
output compression;
output masking;
29.
An energy-efficient and robust millimeter-wave Wireless Network-on-Chip architecture
机译:
高效节能的毫米波片上无线网络芯片架构
作者:
Mansoor Naseef
;
Ganguly Amlan
;
Yuvaraj Manoj Prashanth
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Network-on-Chip;
robustness;
token-passing;
wireless interconnect;
30.
CFEDR: Control-flow error detection and recovery using encoded signatures monitoring
机译:
CFEDR:使用编码签名监视进行控制流错误检测和恢复
作者:
Tan Lanfang
;
Tan Ying
;
Xu Jianjun
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
31.
A low power architecture for online detection of execution errors in SMT processors
机译:
在线检测SMT处理器中执行错误的低功耗架构
作者:
Rodrigues Ranee
;
Kundu Sandip
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Online testing;
Simulteneous Multi-threaded Processor (SMT);
execution unit testing;
performance and power efficient test;
32.
SAT-based code synthesis for fault-secure circuits
机译:
故障保护电路基于SAT的代码合成
作者:
Dalirsani Atefe
;
Kochte Michael A.
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Concurrent error detection (CED);
error control coding;
self-checking circuit;
totally self-checking (TSC);
33.
DaemonGuard: O/S-assisted selective software-based Self-Testing for multi-core systems
机译:
DaemonGuard:用于多核系统的基于O / S辅助的基于选择性软件的自测
作者:
Skitsas Michael A.
;
Nicopoulos Chrysostomos A.
;
Michael Maria K.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
34.
A novel scheme for concurrent error detection of OLS parallel decoders
机译:
OLS并行解码器并发错误检测的新方案
作者:
Namba Kazuteru
;
Lombardi Fabrizio
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Error correcting code (ECC);
concurrent error detection (CED);
orthogonal Latin square (OLS) codes;
parallel decoder;
strongly fault secure (SFS);
35.
Run-time mapping for reliable many-cores based on energy/performance trade-offs
机译:
基于能量/性能折衷的可靠多核运行时映射
作者:
Bolchini C.
;
Carminati M.
;
Miele A.
;
Das A.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
36.
Analysing degradation effects in charge-redistribution SAR ADCs
机译:
分析电荷分配SAR ADC中的降级影响
作者:
Khan Muhammad Aamir
;
Kerkhoff Hans G.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
charge-redistribution SAR ADC;
degradation analysis;
degradation modelling;
dependable design;
sensitivity analysis;
37.
A cross-layer fault-tolerant design method for high manufacturing yield and system reliability
机译:
一种跨层容错设计方法,可提高制造良率和系统可靠性
作者:
Guo Jianghao
;
Han Qiang
;
Jone Wen-Ben
;
Wu Yu-Liang
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
Cross-Layer Reliability;
Fault Tolerance;
Micro-Architecture;
38.
Fault Injection Framework for embedded memories
机译:
嵌入式存储器的故障注入框架
作者:
Skoncej Patryk
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
39.
A low cost reliable architecture for S-Boxes in AES processors
机译:
AES处理器中S-Box的低成本,可靠架构
作者:
An Ting
;
Naviner Lirida Alves de Barros
;
Matherat Philippe
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
40.
Variation-tolerant cache by two-layer error control codes
机译:
两层差错控制码的容错缓存
作者:
Zhang Meilin
;
Ampadu Paul
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
|
2013年
关键词:
ECC;
Fault-tolerant;
VLSI;
cache;
process variation;
supply voltage variation;
41.
Implementing triple adjacent Error Correction in double error correction Orthogonal Latin Squares Codes
机译:
在双纠错正交拉丁方码中实现三重相邻纠错
作者:
Reviriego P.
;
Liu S.
;
Maestro J.A.
;
Lee S.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
关键词:
Error correction codes;
Multiple Cell Upsets (MCUs);
majority logic decoding;
memory;
42.
Improved image accuracy in Hot Pixel degraded digital cameras
机译:
改进了Hot Pixel退化数码相机的图像精度
作者:
Chapman Glenn H.
;
Thomas Rohit
;
Koren Israel
;
Koren Zahava
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
关键词:
CCD;
ISO;
active pixel sensor APS;
hot pixel;
imager defect correction;
43.
Impact of mid-bond testing in 3D stacked ICs
机译:
3D堆叠IC中键合测试的影响
作者:
Taouil Mottaqiallah
;
Hamdioui Said
;
Marinissen Erik Jan
;
Bhawmik Sudipta
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
关键词:
3D integration;
cost modeling;
test cost;
test flows;
44.
Reliability analysis of combinational circuits with the influences of noise and single-event transients
机译:
噪声和单事件瞬变影响下组合电路的可靠性分析
作者:
Liu Kaikai
;
Cai Hao
;
An Ting
;
Naviner Lirida
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
45.
Online TSV health monitoring and built-in self-repair to overcome aging
机译:
在线TSV健康监测和内置自我修复功能,可克服老化
作者:
Serafy Caleb
;
Srivastava Ankur
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
46.
Impact of PVT variation on delay test of resistive open and resistive bridge defects
机译:
PVT变化对电阻性开路和电阻性桥缺陷延迟测试的影响
作者:
Zhong Shida
;
Khursheed Saqib
;
Al-Hashimi Bashir M.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
关键词:
Resistive open;
delay test;
process variation;
resistive bridge;
temperature variation;
voltage variation;
47.
Spare sharing network enhancement for scalable systems
机译:
可扩展系统的备用共享网络增强
作者:
Khaleghi Soroush
;
Rao Wenjing
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
48.
Automated integration of fault injection into the ASIC design flow
机译:
将故障注入自动集成到ASIC设计流程中
作者:
Simevski Aleksandar
;
Kraemer Rolf
;
Krstic Milos
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
49.
Modeling and analysis of repair and maintenance processes in Fault Tolerant Systems
机译:
容错系统中维修和维护过程的建模和分析
作者:
Hung J.-Y.
;
Park N.-J.
;
George K.M.
;
Park N.
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
50.
Exploiting error control approaches for Hardware Trojans on Network-on-Chip links
机译:
利用片上网络链接上的硬件木马错误控制方法
作者:
Yu Qiaoyan
;
Frey Jonathan
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
关键词:
Hardware Trojan;
chip security;
cryptographic algorithm;
error control;
network-on-chip (NoC);
51.
Framework for dynamic estimation of power-supply noise and path delay
机译:
动态估算电源噪声和路径延迟的框架
作者:
Rao Sushmita Kadiyala
;
Robucci Ryan
;
Patel Chintan
会议名称:
《2013 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems》
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2013年
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