公开/公告号CN101505905A
专利类型发明专利
公开/公告日2009-08-12
原文格式PDF
申请/专利权人 库利克和索夫工业公司;
申请/专利号CN200680055630.2
申请日2006-10-18
分类号B23K20/00;
代理机构永新专利商标代理有限公司;
代理人蔡胜利
地址 美国宾夕法尼亚
入库时间 2023-12-17 22:23:16
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-03-14
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):B23K20/00 公开日:20090812 申请日:20061018
发明专利申请公布后的视为撤回
2009-10-07
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-08-12
公开
公开
机译: 电磁辐射检测装置具有导电触点,该导电触点包括允许电荷在导电凸块和P型半导体衬底之间通过的P型区域以及与凸块接触设置的N型区域
机译: 电磁辐射检测装置具有导电触点,该导电触点包括允许电荷在导电凸块和P型半导体衬底之间通过的P型区域以及与凸块接触设置的N型区域
机译: 用于例如半导体的半导体封装电子系统,具有上部半导体器件,该上部半导体器件包括导电凸块,该导电凸块将插入件上表面上的焊盘连接到器件下表面上的相应端子