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贯穿SOI衬底的深沟槽电容器及其形成方法

摘要

公开了形成贯穿SOI衬底的深沟槽电容器的方法以及电容器。在一个实施例中,方法包括:在SOI衬底中形成直至硅衬底的沟槽开口;在沟槽开口中沉积侧壁间隔物;进行刻蚀以在硅衬底中形成深沟槽;通过将掺杂剂注入到硅衬底中来形成第一电极,由此侧壁间隔物保护BOX层和硅层;去除侧壁间隔物;在深沟槽内沉积节点电介质;以及通过在深沟槽中沉积导体来形成第二电极。该注入创建了除了在与深沟槽的最下部分邻近的基本为球根形的部分以外基本均匀深度的掺杂区域。侧壁间隔物保护BOX层免于底切,并且该注入去除了从石英玻璃外扩散掺杂剂的需要。

著录项

  • 公开/公告号CN101140862A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN200710147837.9

  • 申请日2007-08-30

  • 分类号H01L21/02;H01L21/84;H01L29/92;H01L27/12;

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 美国纽约阿芒克

  • 入库时间 2023-12-17 19:49:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-09-14

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/02 公开日:20080312 申请日:20070830

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2008-05-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-03-12

    公开

    公开

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