一种提高测试流效率的半导体自动测试设备及测试方法

摘要

一种提高测试流效率的半导体自动测试装置及测试方法，该方法包括建库步骤和测试步骤；建库步骤包括在数据库中建立测试项数据表和测试类型数据表，测试项数据表为以测试项为维度的存储有每个测试项数据的表，根据测试类型选择测试项模板，以新建测试类型数据表中的测试项数据；测试步骤包括接收从设备端所需测试的测试类型要求，根据测试类型所对应的测试项数据表中的测试项ID或测试项名称Name，获取所需的测试项数据；以及将测试项数据所对应指向一个信息及代码文件，发送给设备端。