公开/公告号CN108540217B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-17
原文格式PDF
申请/专利权人 太仓市同维电子有限公司;
申请/专利号CN201810768968.7
申请日2018-07-13
分类号H04B10/073(20130101);
代理机构11340 北京天奇智新知识产权代理有限公司;
代理人刘黎明
地址 215400 江苏省苏州市太仓市娄东街道江南路89号
入库时间 2022-08-23 12:19:48
机译: 半导体自动测试设备,用于提高测试流程效率和测试方法
机译: 用于提高测试效率的测试基质和测试方法
机译: 一种测试方法和一种测试仪器,能够提高高频元件的测试产量