首页> 中国专利> EUV掩模缺陷检测系统及方法

EUV掩模缺陷检测系统及方法

摘要

一种EUV掩模缺陷检测系统及方法,其中EUV掩模检测系统包括:极紫外光束,所述极紫外光束斜射入一待测掩模表面;反光杯,用于收集并反射因待测掩模表面缺陷引起的散射光;传输部件,用于将所述反光杯发出的反射光进行传输;探测器,用于接收所述传输部件传输的光信号,获取待测掩模表面缺陷信息。本发明设计将极紫外光束斜射入待测掩模,允许反光杯作为收集部件更加靠近待测掩模表面,进而增大了收集部件NA,提高缺陷引起的散射光收集效率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F1/84 申请日:20200109

    实质审查的生效

  • 2020-05-05

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号