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一种铜柱凸点互连结构及其制备方法

摘要

本发明公开了一种铜柱凸点互连结构及其制备方法,属于微电子和微机电系统封装领域。该铜柱凸点互连结构中的铜柱为柱状晶结构,其上部为纳米孪晶组织,由特定的镀液配方及直流电沉积的工艺方法一次性在晶圆基底上制备获得,并进一步加工为铜柱凸点互连结构。一方面,可以利用铜柱中的纳米孪晶铜湮灭界面柯肯达尔孔洞、调控化合物择优生长等,从而提高铜柱凸点的互连性能和服役可靠性;另一方面,与全纳米孪晶组织的铜柱相比,本发明涉及的铜柱组织可以有效减少镀层生长应力。本发明涉及的直流电镀工艺可以和现有的晶圆级封装技术兼容,使该发明成果更容易实现产业化。

著录项

  • 公开/公告号CN110707069A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳先进电子材料国际创新研究院;

    申请/专利号CN201910956865.8

  • 发明设计人 高丽茵;刘志权;孙蓉;

    申请日2019-10-10

  • 分类号H01L23/532(20060101);H01L21/768(20060101);C25D7/12(20060101);C25D5/52(20060101);C25D5/02(20060101);C25D3/38(20060101);B82Y30/00(20110101);

  • 代理机构21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人于晓波

  • 地址 518103 广东省深圳市宝安区福永街道龙王庙工业区

  • 入库时间 2023-12-17 06:55:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/532 申请日:20191010

    实质审查的生效

  • 2020-01-17

    公开

    公开

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