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余春; 李培麟; 刘俊龑; 陆皓; 陈俊梅;
上海交通大学材料科学与工程学院;
Sn37Pb; Sn3.0Ag0.5Cu; Sn0.7Cu; 电迁移; 微观组织;
机译:金钉凸点与Sn-0.7Cu焊料用于倒装芯片功率器件封装的混合互连的微结构和可靠性
机译:电迁移对Cu / Sn-3Ag-0.5Cu / Cu系统中焊料凸点的影响
机译:Ni凸点下金属化的Sn基无铅焊点Ⅱ型电迁移失效机理
机译:外围C2倒装芯片互连与焊料封端的Cu支柱凸点电迁移行为的微观结构观察
机译:对无铅焊料替代品(包括Sn基微凸点配置和Cu基纳米材料)可靠性的系统研究。
机译:聚光硅太阳能电池焊料层中Sn3.0Ag0.5Cu / Cu互连中析出的Cu6Sn5晶须
机译:焊料凸点互连的电性能和可靠性
机译:研究热循环和辐射对铟和焊料凸点键合的影响
机译:镍铁合金的耐电迁移凸点下金属化,用于无铅翻转夹中的富锡焊料凸点
机译:用于增强聚合物厚度的金属焊盘结构,该金属焊盘结构用于具有焊料凸点的半导体芯片与半导体芯片封装基板的电互连中
机译:组合的过孔和焊盘结构可改善焊料凸点的电迁移特性
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