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一种高质量自支撑GaN衬底的制备方法及生长结构

摘要

本发明公开了一种高质量自支撑GaN衬底的制备方法,包括以下步骤:提供二维材料基板;在二维材料基板表面生长AlN柱,形成位于二维材料基板上的AlN柱层;在AlN柱层上生长GaN厚膜;通过机械剥离的方式去除二维材料基板;通过研磨抛光处理的方法去除AlN柱层,并获得平整的GaN厚膜,该GaN厚膜即为自支撑GaN衬底。该方法可以利用在二维材料基板上进行外延生长时较低的成核密度,先在二维材料基板上高温生长AlN柱,再利用GaN侧向合并能力强的特点,以降低缺陷密度,在AlN柱上再生长GaN厚膜,以提高最终获得的自支撑氮化物衬底的晶体质量。

著录项

  • 公开/公告号CN110707002A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州纳维科技有限公司;

    申请/专利号CN201910951222.4

  • 发明设计人 徐俞;王建峰;徐科;

    申请日2019-10-08

  • 分类号

  • 代理机构苏州国诚专利代理有限公司;

  • 代理人杨淑霞

  • 地址 215000 江苏省苏州市工业园区独墅湖高教区若水路398号

  • 入库时间 2023-12-17 06:55:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20191008

    实质审查的生效

  • 2020-01-17

    公开

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