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基于电容位置检测反馈控制的MEMS微镜

摘要

本发明公开了一种基于电容位置检测反馈控制的MEMS微镜,属于微机电控制技术领域。该微镜包括玻璃基板、硅结构框架、驱动梁、微镜片和四块电容片;四块电容片呈矩形布置在玻璃基板的表面,微镜片通过对驱动梁加电压受热变形实现偏转;通过建立驱动电压与微镜片的偏转角度关系作为对控制器的信号输入,利用电容片上的电容值与微镜片实际扭转角之间的关系作为反馈值对控制器进行信号反馈,形成对控制器中微镜片扭转角的闭环控制。

著录项

  • 公开/公告号CN109814251A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201910107595.3

  • 发明设计人 徐立新;汤跃;李建华;苏鑫;

    申请日2019-01-18

  • 分类号

  • 代理机构北京理工大学专利中心;

  • 代理人廖辉

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2024-02-19 10:10:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B26/08 申请日:20190118

    实质审查的生效

  • 2019-05-28

    公开

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