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特集1 : 研究解説 : 超精密非接触表面形状測定法について

机译:特征1:研究评论:超精密非接触表面轮廓测量方法

摘要

超精密加工面の表面微細形状を光学装置、走査電子顕微鏡を用いて非接触測定する方法の現状について概観した。対象表面の微細形状は数nmないし10nm台の精度が要求されている。光学的方法としては、各種の干渉法、光挺子法等と差動増幅法の組み合わせ等による方法が示されている。一方電子顕微鏡を用いる方法は試料表面を観察する画像を構成している信号の処理によって、微細形状を求める方法が提示されている。それぞれに特徴があるが、所要の精度測定の道が開けつつある状況について解説している。
机译:概述了通过使用光学装置和扫描电子显微镜非接触式测量超精密加工表面的表面精细形状的方法的现状。要求目标表面的精细形状具有几纳米到10纳米量级的精度。作为光学方法,示出了各种干涉测量方法,使用光学判别方法等的组合的方法以及差分放大方法。另一方面,作为使用电子显微镜的方法,已经提出了一种通过处理形成用于观察样品表面的图像的信号来获得精细形状的方法。尽管每个都有其自身的特征,但它解释了所需的精度测量正在为之开路的情况。

著录项

  • 作者

    佐藤 壽芳;

  • 作者单位
  • 年度 1987
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"zh-cn","name":"Simplified Chinese","id":52}
  • 中图分类

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