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【2h】

Role of electron and hole trapping in the degradation and breakdown of SiO2 and HfO2 films

机译：电子和空穴诱捕在SiO 2 和HFO 2 薄膜的降解和分解的作用

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D. Z. Gao; J. Strand; A.-M. El-Sayed; A. L. Shluger; A. Padovani; L. Larcher;
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年度 2018
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