Integrated circuits ; Long term effects ; Reliability analysis ; Circuit reliability ; Models ; Quality control;
机译:受限几何结构(FinFET,NWFET和NSHFET)晶体管自热的集成建模及其对20 nm以下现代集成电路可靠性的影响
机译:基于缺陷的紧凑建模方法,用于CMOS器件和集成电路的可靠性
机译:利用成品率预测集成电路的长期可靠性:Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov模型的应用
机译:集成电路缺陷的研究和建模以进行可靠性分析
机译:建模和研究纳米级互连中铜微结构的织构和弹性各向异性对集成电路可靠性的影响
机译:具有多个神经调节器的神经回路的集成建模框架
机译:半导体集成电路的可靠性-收益分配:建模和优化