要解决的问题:提供一种软件可靠性增长模型选择方法,软件可靠性增长模型选择装置,软件可靠性增长模型选择程序,在多个应用程序中最适合实际测量数据的软件可靠性增长模型的有效选择。测试开始后不久的某个时间点的软件可靠性增长模型及其程序记录介质。
解决方案:计算机具有用于存储实际测量数据收集结果的内存。使用从存储器中读出的实际测量数据,计算机获得相关系数,该相关系数指示用于估计每个软件可靠性增长模型中的参数的回归公式中的解释变量和对象变量之间的相关性。对于每个要选择的软件可靠性增长模型,获得上述相关系数。选择具有上述获得的相关系数的最大绝对值的软件可靠性增长模型作为用于实际测量数据的最合适模型。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2005063208A
专利类型
公开/公告日2005-03-10
原文格式PDF
申请/专利权人 NIPPON TELEGR & TELEPH CORP NTT;
申请/专利号JP20030293595
发明设计人 SATO DAISUKE;
申请日2003-08-14
分类号G06F11/36;G06F11/34;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:28:18