ATOMS; DEGRADATION; FIELD EFFECT TRANSISTORS; GALLIUM ARSENIDES; HYDROGEN; KOVAR (TRADEMARK); METALLIZING; METALS; PLATING; RADIO FREQUENCIES; RELIABILITY; Gallium Arsenide;
机译:III-V型化合物半导体器件中的可靠性问题:光学器件和基于GaAs的HBT
机译:基于激子种群振荡对GaAs / AlGaAs多量子阱慢光器件施加外场和器件尺寸变化的影响分析
机译:金属有机化学气相沉积生长的基于AlGaAs / InGaAs / GaAs晶体管的氢感测装置
机译:密闭腔中氢气的逸出以及对砷化镓器件可靠性的影响
机译:快速热退火对MBE生长的光电器件GaAsBi / GaAs异质结构影响的研究。
机译:变质InAs / InGaAs / GaAs量子点异质结构光电压中的双极效应:光敏器件的表征和设计解决方案
机译:N-GaAs基板取向对PANI / N-GA-GA-GAAS混合太阳能电池装置电性能的影响
机译:高效Gaas ImpaTT器件的可靠性研究。