SEMICONDUCTOR DEVICES ; QUALITY CONTROL ; GERMANIUM ; INSTRUCTION MANUALS ; TEST METHODS ; TEST EQUIPMENT ; PACKAGING ; EPITAXIAL GROWTH ; RELIABILITY (ELECTRONICS) ; STANDARDS ; SPECIFICATIONS;
机译:通过控制锗含量改善氢化纳米晶硅锗非易失性存储器件的存储特性
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机译:适用于高压双极型器件的高质量100/150 mm p型4H-SiC外延晶片
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