Quality Control Manual Inspection Procedures for Silicon NPN Planar Epitaxial Device Type 2n744

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• 年度 1963
• 页码 p.1-2
• 总页数 2
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  SEMICONDUCTOR DEVICES ; QUALITY CONTROL ; SILICON ; INSTRUCTION MANUALS ; TEST METHODS ; TEST EQUIPMENT ; PACKAGING ; SEMICONDUCTORS ; EPITAXIAL GROWTH ; RELIABILITY (ELECTRONICS) ; STANDARDS ; SPECIFICATIONS;

  机译：半导体器件;质量控制;硅;使用说明书;测试方法;测试设备;封装;半导体;外延生长;可靠性（电子）;标准;规格;